TSY-35型 塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀

薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試，還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試、箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)試、紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。

技術(shù)參數(shù)

1、分度值0.001mm 量程0-12mm

2、上下測(cè)量面為凸/平面時(shí)，上測(cè)量面的曲率半徑在15-50（mm）時(shí)，其測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.1N到0.5N之間。

3、測(cè)量精度

    100um以?xún)?nèi) 精度1um

    100um到250um 精度2um

    250um以上 精度3um

4、外型尺寸：160×140×200mm

5、整機(jī)重量：1.5kg